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四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

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四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-18 05:10

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

探针笔测试结束,套好护套,避免人为断针

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

按下“放大"键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

四探针电阻率检测仪适用范围:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

把被测物测试所需要之参数数据设定:

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

在开机界面按下按键板上的“显示"键,进入测量界面。如图1如图2,在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键,当测材料电阻率时,请选择 “材料"按键 ,进入材料测试主界面.

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

材料电阻测试步骤:操作步骤及流程

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

医学规定不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻",则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料"则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

电流测量:本仪器采用先进芯片技术,可通过调节硅材料厚度,仪器可直接锁定电流,使测量使用更加简便准确,本仪器可根据需要配备测试平台, 利用测试平台可以测试薄片电阻率

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

测试功能:可选择:“RρK"(显示电阻,电阻率,电导率),“R"(只显示电阻),“ρ"(只显示电阻率,“K"(只显示电导率)3种显示模式。

导电电阻率测试仪功能介绍:本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范. 提供中文或英文两种语言操作界面

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

导电电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定

测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取

四探针电阻率测试仪(单电)批发采购内黄

工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.

测量精度±(0.1%读数)

四探针电阻率检测仪适用范围:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

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